Эмиссия ионов

Эмиссия ионов александр
Картеш) также наблюдаются интенсивные ионы H2O+, причем только в дни, когда ветер дует с моря (см. рис. 1.5.2). Интенсивная эмиссия ионов H2O+ 

Эмиссия положительных ионов [36' 45' 90].Термоионная эмиссия не всегда заключается в эмиссии электронов. Во-первых, при температурах, 

Взаимодействие ионов с поверхностью «ВИП-2015» Эмиссия ионов, электронов, фотонов и рентгеновского излучения при ионной.

В разделе 5.4 указывалось на важность сочетания разных методов исследования поверхностных соединений. Количественное определение углерода и других элементов в модифицирующих поверхность соединениях производится элементным анализом, а ИК спектры помогают установить, какие именно группы и в каком количестве содержатся в поверхностном соединении. Содержание элементов в поверхностных соединениях можно определить с помощью зондирующего воздействия различных пучков на поверхность твердого тела, служащего рассеивающей мишенью для такого воздействия. Для зондирования используются направленные пучки фотонов, электронов, ионов илц атомов, вызывающие эмиссию вторичных частиц ( также фотонов, электронов, ионов или атомов), лзучение которой и позволяет судить о свойствах мишени. Помимо элементного анализа, с помощью зондирующего воздействия на поверхность в благоприятных случаях можно получить сведения о структуре поверхности и адсорбции на ней. В табл. 5.4 представлены некоторые из этих методов. Перечисленные в таблице методы. анализа поверхности, за исключением рентгеновской эмиссионной спектроскопии, позволяют исследовать поверхностные слои на глубину менее 10 нм. В этих методах зондирование поверхности и ана--лиз рассеиваемых или эмиттируемых частиц проводится в очень высоком вакууме. Для дополнительной очистки поверхность часто подвергается предварительной бомбардировке частицами высокой энергии, обычно аргонной бомбардировке. С этим связаны ограничения в применении некоторых из этих методов для исследования поверхности недостаточно стойких адсорбентов. Преимуществом этих методов является возможность локального исследования не- [c.109]
У самостоятельных дуг эта эмиссия поддерживается тепловыделением самой дуги, у несамостоятельных — специальным его нагревом. Проводимость газового канала самостоятельных (термических) дуг обусловливается термической ионизацией газа, причем температуры электронов, ионов и нейтральных частиц в канале приблизительно одинаковы. Разряды низкого давления с подогреваемым активированным катодом (несамостоятельные дуги) могут, как и в случае тлеющего разряда, иметь температуру электронов, много большую ионной температуры (рис. 23.12—23.15). [c.433]
Потребности производства вызвали разработку и внедрение новых методов исследования качественного и количественного анализа поверхностных слоев. Развитие получили методы, основанные на зондирующем воздействии на образец пучками фотонов, электронов, ионов, нейтральных частиц, электрического и магнитного полей и др. Все они (кроме магнитного поля) вызывают эмиссию вторичных частиц электроиов, ионов, фотонов или нейтральных атомов, передающих информацию о поверхности соответствующему детектору. Очевидно, что анализы проводятся в вакууме, и поэтому указанные методы применимы только для анализа твердых поверхностей. Большинство иа этих методов имеет разрешение по глубине не более 10 нм. [c.246]

При общем рассмотрении процессы эмиссии ионов из плазмы не должны отличаться от эмиссии электронов. Для обоих процессов 

Один из механизмов связан с различной скоростью перехода разноименно заряженных частиц.из одной фазы в другую. Простейший случай образования двойного электрического слоя по такому механизму — испускание электронов поверхностью нагретых металлов ( электронная эмиссия). В этом случае сам металл в сколько-нибудь значительном количестве не испаряется, эмиссия же электронов происходит легко, и поверхность металла заряжается положительно. Между поверхностью металла и окружающим ее внешним пространством возникает разность потенциалов. По достижении равновесного состояния распределение частиц в обеих фазах неравномерное положительно заряженный металл притягивает электроны из внешней среды, а они отталкивают электроны металла от его поверхности внутрь. В результате в поверхностном слое металла образуется избыток положительно заряженных ионов, а на поверхности внешнего пространства— избыток электронов. Такое распределение разноименно заряженных частиц и создает двойной электрический слой. [c.165]
Электронная температура разряда 8000—10 ООО К, т. е. существенно выше, чем в дуге или пламени. Концентрация свободных электронов 10 —10 см . Продолжительность пребывания частичек аэрозоля в наиболее горячей зоне составляет примерно 10-2 с, что обеспечивает их полное испарение, эффективную атомизацию и возбуждение. Максимальная эмиссия атомов и ионов наблюдается на расстоянии 14—18 мм выше края горелки. Фоновое излучение в этом участке плазмы мало. Слабы также эффекты самопоглощения и самообращения линий. Плазма характеризуется высокой пространственной и временной стабильностью. [c.65]
Тлеющий разряд возникает при малых давлениях газа (единицы и десятые доли кПа) и значительных сопротивлениях во внешней цепи. Тлеющий разряд представляет собой совокупность нескольких значительно отличающихся светящихся и темных участков в газовом промежутке (рис. 111.59). Наибольшее падение напряжения наблюдается в зоне 2 ( катодном темном пространстве), где имеет место увеличение кинетической энергии электронов за счет электрического поля. Электроны вылетают из катода в результате ударов положительных ионов и быстрых атомов о материал катода (вторичная ионно-электронная эмиссия). Движущиеся к аноду электроны, соударяясь с молекулами и атомами, возбуждают и ионизируют их. Переход из возбужденных состояний в нормальное сопровождается свечением. Тлеющий разряд используется в газосветных лампах, наполненных аргоном, неоном с добавками паров ртути. [c.251]

Ионно-оптическая схема прибора для регистрации вторичных ионов МАНАГА-Ф уменьшения засветки Эмиссия ионов органических соединений 293.

Ионный ток возникает в детекторе под действием какого-либо источника ионизации ( радиоактивного изотопа, пламени, разряда, фотоионизации, электронной и ионной эмиссии) и электрического поля (разности потенциалов) между электродами детектора. В любой момент времени в детекторе достигается равновесие, характеризующееся тем, что скорость образования заряженных частиц (ионов, электронов) равна сумме скоростей рекомбинации и сбора заряженных частиц на электродах детектора. Скорость сбора определяет ток детектора. В ионизационных детекторах создаются такие условия, при которых либо плотность (концентрация) заряженных частиц, либо скорость переноса их в электрическом поле зависит от состава газа. [c.49]
Следующий метод, применяемый для исследования поверхностных явлений,— это метод вторичной ионно-ионной эмиссии. При бомбардировке поверхности твердого тела первичным пучком положительно заряженных ионов ( обычно ионами инертного газа, например, Аг+) происходит эмиссия с поверхности вторичных положительных и отрицательных ионов — вторичная ионно-ионная эмиссия, а также нейтральных и некоторых других частиц [3, 8—11]. Прямое масс-спектрометрическое изучение вторичных ионов, а в ряде случаев дополнительное изучение вторичных нейтральных частиц (с ионизацией их электронным ударом) дает ценную информацию о поверхности твердого тела. [c.49]
Бомбардировку вторичными частицами высокой энергии можно устранить, вводя сетку с отрицательным потенциалом относительно экрана. Как подтверждают опыты, это подавляет эмиссию вторичных электронов. Однако, несмотря на это, слой водорода при возникновении изображения Не" удаляется. Образования электронов при столкновениях ион— атом также можно избежать, если работать при низких давлениях Не. (г разряде ионизация лазерным пучком, термоионная эмиссия и тругие В ХМС делались попытки применения почти всех этих методов но hui большее рае- [c.10]
Черепанов А. М.,ТресвятскийС. Г., Высокоогне упорные материалы и изделия из окислов, 2 изд.. М., 1964 К а й-н а р с к и й И..С., Процессы технологии огнеупоров. М., 1969 Омическая технология керамики и огнеупор . М., 1972 К а й-нарский И. С., Дегтярева Э. В., Орлова И. Г., Корундовые огнеупоры и керамика. М., 1981. А. С. Власов. ОЖЕ- СПЕКТРОСКОПИЯ электронная, метод изучения хим. состава поверхностных слоев твердых тел, основанный на эмиссии Оже-электронов. При облучении атомов исследуемого в-ва первичными электронами, ионами или рентгеновским излучением с энергией Еа происходит возбуждение электрона одной из внутр. оболочек X (напр., К-оболочки) атома энергия связи этого электрона Ех У получить обычный масс-спектр, а затем, после изменения отражающего потенциала так, чтобы выполнялось условие У>Fr>l записать спектр только метастабильных ионов, образую- [c.188]
Для создания стабильных условий работы в течеискателе поддерживается строго постоянная электронная эмиссия катода источника ионов, для чего применена схема стабилизатора эмиссии. Ток эмиссии измеряется стре-лочцьш прибором, служащим также для контроля величины ускоряющего напряжения. [c.67]
Действие счетчика ионов основапо иа использовании вторичной электронной эмиссии мля усиления ионного тока и регистрации отдельных ионов. Блок-схема прибора приведена на рис. 75. [c.89]
В прямой связи с электропроводностью стекла находится важный в техническом отношении процесс образования трещин вблизи вплавленных электродов при повышенных температурах, когда проводимость стекла становится уже заметной. Растрескивание штенгелей в полнопериодных трубках-выпрямителях, согласно Гал-дупу23, может достигать такой степени, которая ведет к значительному сокращению времени их работы. Образование трещин происходит вблизи электродов и вызывается бомбардировкой электронов вторичной эмиссии из анодов выпрямителя. Этот процесс сопровождается заметным выделением газа, состоящего, по данным масс-спектрометрического исследования, из водорода, водяного пара, кислорода, окиси и двуокиси углерода и азота в очень малых количествах (см. Е 1, 61). При 100°С растрескиванием можно практически пренебречь, так как при такой низкой температуре, согласно экспе-рйментальным результатам Шумахера , электропроводность еще незначительна. Наблюдается типичная поляризация, которая достигает максимальной величины тока, когда ток изменяет свое направление, но затем быстро падает. Удельное сопротивление данного стекла определяется по числу перемен направления тока до момента появления трещин. Самопроизвольное растрескивание бывает тем более резко выраженным, чем выше содержание натрия в стекле. Электропроводность стекла снижается по мере замещения ионов натрия ионами более тяжелых металлов.

Эмиссия ионов правозащитник

(Поступило в Редакцию 9 марта 2004 г.) Рассмотрены качественные представления об общих свойствах эмиссии ионов из газоразрядной плазмы в.


эмиссия. Коэффициент вторичной ионной эмиссии. Рассеяние ионов низких и средних энергий. Обратное резерфордовское рассеяние. Ионно- 

с добавлением глицерина (1) и сахарозы (2) образованием ионов водорода в а также эмиссия ионов и испарение воды из нагретого раствора.


Экспериментально исследована вторичная эмиссия электронов из медной фольги 5 мкм на стрых легких ионов коэффициент ВИЭЭ прямо про-.


Ионная эмиссия – испускание положительных и отрицательных ионов поверхностью твёрдого тела или жидкости (эмиттер) в вакуум или газообразную 

Ион-электронная эмиссия – испускание электронов под действием ионов. Известны два механизма ион-электронной эмиссии: потенциальный 


Электрогидродинамическая эмиссия ионов (далее э.г.д. эмис- сия) возникает при повышении напряженности электрического поля на поверхности 


Ионная эмиссия, испускание положительных и отрицательных ионов поверхностью твёрдого тела или жидкости (эмиттер) в вакуум или газообразную 

Ионно-ионная эмиссия или вторичная ионная эмиссия — явления испускания с поверхности конденсированной среды ионов при её бомбардировке 


Термоионная эмиссия происходит в результате испарения в виде ионов частиц эмиттера или других частиц, находящихся в эмиттере в виде примесей 


Исследование этого явления позволило сделать вывод, что для получения электрических полей, достаточных для холодной эмиссии ионов, 

для его отрыва от поверхности, то происходит его эмиссия или, иначе говоря эмиссии вторичных ионов при распылении твердых тел, состоит в.


Термоионные свойства изучали по эмиссии ионов цезия с замещенных алюмосиликатов. В качестве исходного продукта использовали цеолит типа 


В результате упругого взаимодействия падающего иона с атомами мишени происходит эмиссия ионов вещества. Максимальная энергия ионов 

С увеличением толщины слоя ионов на поверхности эмиттера эмиссия ионов практически прекращается. Поступающие к поверхности эмиттера 


Коэффициент ионно-электронной эмиссии g равен отношению числа эмиттированных электронов nе к числу падающих на поверхность ионов ni.


Капиллярная игла источника ионов выполнена в виде спеченных  острию, на котором формируется конус Тейлора и с которого идет эмиссия ионов.

эмиссия, радиационная проводимость, ионолюминесценция) рассматри- Малая глубина проникновения ионов приводит к изменению поверхностных 


Электронно-ионная эмиссия — явление вырывания ионов с поверхности твёрдого тела под действие потоков электронов.


образом под действием ударов положительных ионов и быстрых атомов  тока эмиссия электронов происходит со всё большей площади катода.

Определение концентрации перманганат-ионов в анализируемом вторичной эмиссии) от концентрации анализируемого вещества в растворе.